TESCAN AMBER - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM

FIB-SEM TESCAN AMBER là giải pháp phục vụ phân tích ở thang nano đa năng, mở rộng khả năng nghiên cứu về Khoa học vật liệu của bạn

TESCAN-AMBER-LS

TESCAN-AMBER

Đặc điểm nổi bật

• Thực hiện chuẩn bị mẫu để quan sát với độ chính xác cao

• Phân tích ở thang nano với ảnh chụp SEM độ phân giải siêu cao (UHR)

• Trường quan sát được mở rộng, dễ dàng điều hướng mẫu

• Quy trình tự động hóa đa vị trí

• Chụp cắt lớp của mẫu đa phương thức

• Phần mềm Essence™ dễ dàng sử dụng với giao diện đồ họa

• Với nhiều tùy chọn phù hợp với nhiều ứng dụng khác nhau

Hình ảnh ứng dụng của TESCAN AMBER

Materials Science

A-cross-section-through-a-defect-in-a-multi-layered-coating

Array-of-micro-compression-pillars

Wide-Field-mode-for-large-sample-imaging-and-navigation

Life Science

Cells-of-interest-grown-on-the-TEM-grid

Overview-image-of-on-grid-lamella-inside-the-cell

Top-view-of-a-thin-lamella-prepared-for-subsequent-cryo-TEM-analysis