TESCAN TENSOR là thiết bị 4D-STEM cận chân không siêu cao (UHV) đầu tiên được Tích hợp cao, Phân tích mạnh mẽ và Hỗ trợ tuế sai.
TESCAN TENSOR là Kính hiển vi điện tử truyền quét 4D-STEM chuyên dụng đầu tiên trên thế giới dùng để mô tả đặc tính đa phương thức của các đặc tính hình thái, hóa học và cấu trúc ở thang nano của vật liệu chức năng, màng mỏng và hạt tổng hợp, với hiệu suất 4D-STEM nổi bật và khả năng sử dụng chưa từng có.
TESCAN TENSOR là 4D-STEM chuyên dụng đầu tiên trên thế giới
-
Đồng bộ hóa quá trình quét với hình ảnh nhiễu xạ, thu nhận EDS và gián đoạn chùm tia.
-
Tích hợp phân tích và xử lý dữ liệu 4D-STEM, gần thời gian thực
-
Hiệu suất cao từ Tuế sai chùm tia điện tử và điều kiện cận chân không siêu cao (UHV)
-
Một cách tiếp cận mới đối với Trải nghiệm người dùng STEM
Phân tích 4D-STEM - bức tranh đầy đủ về sự tương tác giữa chùm tia điện tử và mẫu
4D-STEM là phương pháp kính hiển vi được lựa chọn để phân tích đặc tính đa phương thức kích thước nano thực sự của các tính chất vật liệu như hình thái, hóa học và cấu trúc. Tại mỗi pixel trong tập dữ liệu STEM, TESCAN TENSOR thu được mẫu nhiễu xạ và phổ EDS, nhanh chóng và được đồng bộ hóa hoàn hảo. Dữ liệu nhiễu xạ cùng với quang phổ tạo nên bức tranh đầy đủ về sự tương tác giữa chùm tia điện tử và mẫu, từ đó có thể cung cấp nhiều đặc tính vật liệu.
Hình ảnh ứng dụng của TESCAN TENSOR
