FIB SEM TESCAN SOLARIS X cho phép nghiên cứu mặt ngang sâu, độ phân giải điểm cuối cao, phục vụ nghiên cứu phân tích lỗi giai đoạn đóng gói
FIB-SEM TESCAN SOLARIS giải pháp giúp bạn tiếp cận chế tạo nano tiến tiến ngay tại phòng nghiên cứu của bạn
TESCAN AMBER X là sự kết hợp độc đáo giữa Plasma FIB-SEM và UHR SEM, cung cấp khả năng nghiên cứu vật liệu ở nhiều thang kích thước khác nhau
FIB-SEM TESCAN AMBER là giải pháp phục vụ phân tích ở thang nano đa năng, mở rộng khả năng nghiên cứu về Khoa học vật liệu của bạn